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PDM-1100相位差光譜分析儀
PDM-1100相位差光譜分析儀是主要運(yùn)用光譜技術(shù)對(duì)波片、激光雷達(dá)等光學(xué)元器件的相位差進(jìn)行測(cè)量分析的儀器，為光學(xué)元件質(zhì)量把控提供數(shù)據(jù)支撐。該設(shè)備可在0~70度之間自定義測(cè)量角度，滿足不同檢測(cè)需求。放置好樣品即可開始測(cè)試，無需建立材料庫(kù)、無需建模、無需對(duì)焦，測(cè)試速度快，操作便捷。
波片相位差測(cè)量
激光雷達(dá)視窗片相位差測(cè)量
儀器特點(diǎn)
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相位差測(cè)量范圍可選，0-180°或0-360；
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0°固定入射或可變角度(0到70度)測(cè)量；
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可測(cè)量波片、車載雷達(dá)窗口片等樣品的相位差波長(zhǎng)分布情況；
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支持大尺寸樣品測(cè)量，最大至200mm；
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無需對(duì)焦,無需材料庫(kù)，無需建模，測(cè)量速度快。
產(chǎn)品參數(shù)
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