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ADMS角分辨光譜分析儀
ADMS ⻆分辨光譜分析儀是⼀款可變⻆度的透反射測量光譜分析儀，可快速實(shí)現(xiàn)透射/透散射/漫反射/輻射/軟件編譯⾃由⻆度等多種光譜測量模式。適⽤于光⼦晶體/超導(dǎo)材料/超晶格/漫反射等納⽶光學(xué)材料的能帶、缺陷等特性研究。在薄膜材料/玻璃/光學(xué)元器件等⾏業(yè)均可采⽤ADMS⻆分辨光譜分析儀實(shí)現(xiàn)光學(xué)元器件特定⻆度下透過/透散射/漫反射的過程控制測量，可輸出BRDF\BTDF分布函數(shù)。
儀器特點(diǎn)
1. 全角度測量；
2. 超寬光譜范圍光譜測量分析；
3. 多測量模式；
4. ⾼精度智能電機(jī)調(diào)節(jié)；
5. ⾃由編譯測量，⾃動(dòng)旋轉(zhuǎn)批量測量；
6. 樣品x、y、z、俯仰、傾斜多維精細(xì)調(diào)節(jié)；
7. 擴(kuò)展性好：儀器可新增外部激光接口，可裝載光學(xué)元件，豐富測量內(nèi)容。
應(yīng)用領(lǐng)域
技術(shù)參數(shù)
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