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TMS-320 透過率光譜分選儀
TMS-320 透過率光譜分選儀是⼀臺光學(xué)元件樣品透過率批量測試設(shè)備，⾼精度電動位移平臺⼤幅提升了樣品測試速度，可⾃定義樣品測量區(qū)域，并記錄數(shù)據(jù)實現(xiàn)樣品多孔/多點透過率⾃動測量，適⽤于⼿機⾯板的多孔測試、陣列濾光⽚的⾼通量測試、鍍膜濾光⽚的質(zhì)檢、分級和均勻性檢測。
儀器特點
1. 單點檢測速度快，毫秒級；
2. 毫⽶級小樣品檢測；
3. 超⼤⾏程（可定制）、⽀持樣品⼤批量全檢；
4. 可對樣品進⾏質(zhì)檢、分級。
測試對象
技術(shù)參數(shù)
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