|
TMS-Pro(單通道)
TMS-D(雙通道)
透過率光譜分析儀
TMS-PRO和TMS-D透過率光譜分析儀能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類手機(jī)及Pad面板的透過率，可用于同一面板多個(gè)小孔測(cè)量，實(shí)時(shí)顯示單、多點(diǎn)波長(zhǎng)透過率數(shù)據(jù)及指定波段平均透過率數(shù)據(jù)、實(shí)時(shí)顯示半透波長(zhǎng)及透過率。
儀器特點(diǎn)
1. 采用大角度采集全穿透式測(cè)量；
2. 可對(duì)多孔進(jìn)行快速測(cè)量；
3. 采用數(shù)字視頻對(duì)焦，使微小區(qū)域?qū)崿F(xiàn)精準(zhǔn)測(cè)量；
4. 實(shí)時(shí)顯示測(cè)量樣品關(guān)注波長(zhǎng)位置的透射率數(shù)據(jù)及半透波長(zhǎng)檢測(cè)，自動(dòng)調(diào)整顯示坐標(biāo)范圍，可對(duì)批量樣品進(jìn)行高效檢測(cè)及譜圖對(duì)比分析；
5. 可自定義測(cè)量方案，設(shè)置判定標(biāo)準(zhǔn)，自動(dòng)判定"OK"和"NG”,使檢測(cè)更快速，結(jié)果更準(zhǔn)確；
6. 高性能探測(cè)器，單次測(cè)量小于1秒，重復(fù)性高；
7. 最小測(cè)量孔徑可達(dá)φ0.2mm。
應(yīng)用領(lǐng)域
>> 手機(jī)面板IR孔、隱藏孔、霧化孔、閃光燈孔透過率測(cè)量；
>> 弧形邊IR孔、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板透過率測(cè)量；
>> 太陽膜、濾光片光學(xué)元件透光測(cè)量。
技術(shù)參數(shù)
|
